LED测试的国内国外相关标准列表
2013/7/26 11:19:24 点击：
国际照明委员会(CIE)1997年发表CIE127-1997 LED测试方法，把LED强度测试确定为平均强度的概念，并且规定了统一的测试结构和探测器大小，为LED准确测试比对奠定了基础。
1.国外相关标准现状
普通LED的测试标准有：
(1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
IEC60747-5半导体分立器件及集成电路
(2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics(1997-09)
IEC60747-5-2分立半导体器件及集成电路零部件5-2：光电子器件—分类特征及要素(1997-09)
(3)IEC60747-5-3Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-3:Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
IEC60747-5-3分立半导体器件及集成电路零部件5-3：光电子器件—测试方法(1997-08)
(4)IEC60747-12-3 Semiconductordevices-part12-3:optoelectronic devices–Blank detail specification for light-emitting diodes–Display application(1998-02)
IEC60747-12-3半导体分立器件12-3：光电子器件—显示用发光二极管空白详细标准(1998-02)
(5) CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997LED测试方法(1997)
(6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements
CIE/ISOLED强度测试标准
国际照明委员会(CIE)1997年发表CIE127-1997 LED测试方法，把LED强度测试确定为平均强度的概念，并且规定了统一的测试结构和探测器大小，这样就为LED准确测试比对奠定了基础。虽然CIE127-1997测试方法并非国际标准，但它容易实施准确测试比对，目前世界上主要企业都已采用。但是随着技术的快速发展，许多新的LED技术特性CIE127-1997 LED测试方法没有涉及。
目前，随着半导体照明产业的快速发展，发达国家非常重视LED测试标准的制订。如美国国家标准检测研究所(NIST)正在开展LED测试方法的研究，准备建立整套的LED测试方法和标准。同时，许多国外大公司的研究和开发人员正在积极参与国家和国际专业化组织，制订半导体照明测试标准。如2002年10月28日，美国Lumileds公司和日本Nichia宣布双方进行各自LED技术的交叉授权，并准备联合制订功率型LED标准，以推动市场应用。
2.国内相关标准现状
从八十年代初起，我国相继制定了一些与发光二极管相关的行业标准和国家标准。国内现有与LED测试有关的标准有：
(1)Sj2353.3-83半导体发光二极管测试方法
(2)Sj2658-86半导体红外发光二极管测试方法
(3)GB/T12561—1990发光二极管空白详细规范
(4)GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路：光电子器件(国家标准)
(5)GB/T18904.3—2002半导体器件12-3:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范(采用IEC60747-12-3:1998)
(6)半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性(国家标准;制订中)
(7)半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法(国家标准;制订中)
(8)半导体发光二极管测试方法(中国光协光电器件分会标准;2002)
1.国外相关标准现状
普通LED的测试标准有：
(1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
IEC60747-5半导体分立器件及集成电路
(2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics(1997-09)
IEC60747-5-2分立半导体器件及集成电路零部件5-2：光电子器件—分类特征及要素(1997-09)
(3)IEC60747-5-3Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-3:Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
IEC60747-5-3分立半导体器件及集成电路零部件5-3：光电子器件—测试方法(1997-08)
(4)IEC60747-12-3 Semiconductordevices-part12-3:optoelectronic devices–Blank detail specification for light-emitting diodes–Display application(1998-02)
IEC60747-12-3半导体分立器件12-3：光电子器件—显示用发光二极管空白详细标准(1998-02)
(5) CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997LED测试方法(1997)
(6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements
CIE/ISOLED强度测试标准
国际照明委员会(CIE)1997年发表CIE127-1997 LED测试方法，把LED强度测试确定为平均强度的概念，并且规定了统一的测试结构和探测器大小，这样就为LED准确测试比对奠定了基础。虽然CIE127-1997测试方法并非国际标准，但它容易实施准确测试比对，目前世界上主要企业都已采用。但是随着技术的快速发展，许多新的LED技术特性CIE127-1997 LED测试方法没有涉及。
目前，随着半导体照明产业的快速发展，发达国家非常重视LED测试标准的制订。如美国国家标准检测研究所(NIST)正在开展LED测试方法的研究，准备建立整套的LED测试方法和标准。同时，许多国外大公司的研究和开发人员正在积极参与国家和国际专业化组织，制订半导体照明测试标准。如2002年10月28日，美国Lumileds公司和日本Nichia宣布双方进行各自LED技术的交叉授权，并准备联合制订功率型LED标准，以推动市场应用。
2.国内相关标准现状
从八十年代初起，我国相继制定了一些与发光二极管相关的行业标准和国家标准。国内现有与LED测试有关的标准有：
(1)Sj2353.3-83半导体发光二极管测试方法
(2)Sj2658-86半导体红外发光二极管测试方法
(3)GB/T12561—1990发光二极管空白详细规范
(4)GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路：光电子器件(国家标准)
(5)GB/T18904.3—2002半导体器件12-3:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范(采用IEC60747-12-3:1998)
(6)半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性(国家标准;制订中)
(7)半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法(国家标准;制订中)
(8)半导体发光二极管测试方法(中国光协光电器件分会标准;2002)
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